|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Thickness Dependence of Nanoscaled Thin Film and Substrate by Ultrasonic Atomic Force Microscopy |
| Auteur: |
Kwak, Dong-Ryul |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 22 () nr. 2 pagina's 345-354 |
| Jaar: |
2021-01-14 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |