|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Active Contour Method Based Sub-pixel Critical Dimension Measurement of Thin Film Transistor Liquid Crystal Display (TFT-LCD) Patterns |
| Auteur: |
Lee, Jeong Hoon Kim, Tai-Wook Ku, Dong Hun Pahk, Heui Jae |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 21 () nr. 5 pagina's 831-841 |
| Jaar: |
2020-01-10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 17 gevonden artikelen
| volgende >> |