|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Single Shot Line Profile Measurement of Multi-layered Film Thicknesses |
| Auteur: |
Kim, Jin Sub Park, Hyo Mi Joo, Ki-Nam |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 21 () nr. 11 pagina's 2089-2094 |
| Jaar: |
2020-09-11 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |