|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of Parameters Affecting the Surface Roughness in Sapphire Wafer Polishing Using Nanocrystalline–Microcrystalline Multilayer Diamond CVD Pellets |
| Auteur: |
Yun, Joong-Cheul Lee, Eung-seok Lee, Choong-hyun Lim, Young-kyun Lim, Dae-Soon |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 20 (2019) nr. 6 pagina's 883-891 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |