|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Tip bluntness transition measured with atomic force microscopy and the effect on hardness variation with depth in silicon dioxide nanoindentation |
| Auteur: |
Choi, Joo Hoon Korach, Chad Steven |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 12 (2011) nr. 2 pagina's 345-354 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Korean Society for Applied Biological Chemistry, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| << vorige |