|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of film thickness and surface profile using reflectometry and spectrally resolved phase shifting interferometry |
| Auteur: |
Debnath, Sanjit Kumar You, Joonho Kim, Seung-Woo |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 10 (2009) nr. 5 pagina's 5-10 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Springer |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |