|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Metrological atomic force microscope using a large range scanning dual stage |
| Auteur: |
Kim, Jong-Ahn Kim, Jae Wan Kang, Chu-Shik Eom, Tae Bong |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 10 (2009) nr. 5 pagina's 11-17 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society for Precision Engineering, Springer |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |