Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Metrological atomic force microscope using a large range scanning dual stage
 
 
Titel: Metrological atomic force microscope using a large range scanning dual stage
Auteur: Kim, Jong-Ahn
Kim, Jae Wan
Kang, Chu-Shik
Eom, Tae Bong
Verschenen in: International journal of precision engineering and manufacturing
Paginering: Jaargang 10 (2009) nr. 5 pagina's 11-17
Jaar: 2009
Inhoud:
Uitgever: Korean Society for Precision Engineering, Springer
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland