|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
A study on the characteristic of parameters by the response surface method in final wafer polishing |
| Auteur: |
Lee, Eun-Sang Hwang, Sung-Chul Lee, Jung-Taik Won, Jong-Koo |
| Verschenen in: |
International journal of precision engineering and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 10 (2009) nr. 3 pagina's 25-30 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |