|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
A parameter estimation approach based on binary measurements using Maximum Likelihood analysis - Application to MEMS |
| Auteur: |
Jafari, Kian |
| Verschenen in: |
International journal of control, automation and systems |
| Paginering: | Jaargang 15 (2017) nr. 2 pagina's 716-721 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Institute of Control, Robotics and Systems and The Korean Institute of Electrical Engineers, Bucheon / Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |