|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Artifacts in sample preparation of transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Kim, Young-Woon |
| Verschenen in: |
Metals and materials international |
| Paginering: | Jaargang 7 (2001) nr. 5 pagina's 499-504 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Korean Institute of Metals and Materials, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |