|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of crystallographic properties of GaN thin film using automated crystal orientation mapping with TEM |
| Auteur: |
Yoo, Seung Jo Kim, Jin-Gyu Kim, Chang-Yeon Kim, Eun-Mee Lee, Ji-Hyun Kim, Young-Min Yoo, Suk Jae Kim, Seong Bong Kim, Youn-Joong |
| Verschenen in: |
Metals and materials international |
| Paginering: | Jaargang 18 (2012) nr. 6 pagina's 997-1001 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Korean Institute of Metals and Materials, Springer |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 22 gevonden artikelen
| volgende >> |