|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Terahertz Multilayer Thickness Measurements: Comparison of Optoelectronic Time and Frequency Domain Systems |
| Auteur: |
Liebermeister, Lars Nellen, Simon Kohlhaas, Robert B. Lauck, Sebastian Deumer, Milan Breuer, Steffen Schell, Martin Globisch, Björn |
| Verschenen in: |
Journal of infrared, millimeter, and terahertz waves |
| Paginering: | Jaargang 42 () nr. 11-12 pagina's 1153-1167 |
| Jaar: |
2021-12-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |