|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Distance dependence of atomic-resolution near-field imaging on α-Al2O3 (0001) surface with respect to surface photovoltage of silicon probe tip |
| Auteur: |
Yamanishi, Junsuke Tokuyama, Takashi Naitoh, Yoshitaka Li, Yan Jun Sugawara, Yasuhiro |
| Verschenen in: |
Nano research |
| Paginering: | Jaargang 9 (2015) nr. 2 pagina's 530-536 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tsinghua University Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |