|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ Raman spectroscopy of topological insulator Bi2Te3 films with varying thickness |
| Auteur: |
Wang, Chunxiao Zhu, Xiegang Nilsson, Louis Wen, Jing Wang, Guang Shan, Xinyan Zhang, Qing Zhang, Shulin Jia, Jinfeng Xue, Qikun |
| Verschenen in: |
Nano research |
| Paginering: | Jaargang 6 (2013) nr. 9 pagina's 688-692 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Berlin Heidelberg, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |