|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
A universal calibration method for eliminating topography-dependent current in conductive AFM and its application in nanoscale imaging |
| Auteur: |
Hao, Chunlin Xu, Hao Lin, Shiquan Zhang, Yaju He, Jinmiao Liu, Bei Zhang, Yuanzheng Wu, Banghao Shen, Guozhen Zheng, Haiwu |
| Verschenen in: |
Nano research |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. 7 pagina's 6509-6517 |
| Jaar: |
2024-04-22 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tsinghua University Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |