|
Ultimate dielectric scaling of 2D transistors via van der Waals metal integration |
|
|
|
Titel: |
Ultimate dielectric scaling of 2D transistors via van der Waals metal integration |
Auteur: |
Dang, Weiqi Zhao, Bei Liu, Chang Yang, Xiangdong Kong, Lingan Lu, Zheyi Li, Bo Li, Jia Zhang, Hongmei Li, Wanying Shi, Shun Qin, Ziyue Liao, Lei Duan, Xidong Liu, Yuan |
Verschenen in: |
Nano research |
Paginering: |
Jaargang 15 () nr. 2 pagina's 1603-1608 |
Jaar: |
2021-08-05 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Tsinghua University Press, Beijing |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|