|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Trap and 1/f-noise effects at the surface and core of GaN nanowire gate-all-around FET structure |
| Auteur: |
Siva Pratap Reddy, Mallem Im, Ki-Sik Lee, Jung-Hee Caulmione, Raphael Cristoloveanu, Sorin |
| Verschenen in: |
Nano research |
| Paginering: | Jaargang 12 (2019) nr. 4 pagina's 809-814 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tsinghua University Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
| << vorige |