Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 13 van 21 gevonden artikelen
 
 
  Quantitative Trait Locus (QTL) Mapping of Sugar Yield-Related Traits in Sugar Beet (Beta vulgaris L.)
 
 
Titel: Quantitative Trait Locus (QTL) Mapping of Sugar Yield-Related Traits in Sugar Beet (Beta vulgaris L.)
Auteur: Wang, Maoqian
Xu, Yuhui
Wang, Weicheng
Wu, Zedong
Xing, Wang
Zhang, Hanguo
Verschenen in: Sugar tech
Paginering: Jaargang 21 (2018) nr. 1 pagina's 135-144
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Springer India, New Delhi
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 13 van 21 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland