|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 40 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative measurements of nanoparticle layer thicknesses near the contact line region after droplet drying-out |
| Auteur: |
Shin, Dong Hwan Kim, Dae Yun Choi, Chang Kyoung Lee, Seong Hyuk |
| Verschenen in: |
Journal of mechanical science and technology |
| Paginering: | Jaargang 33 (2019) nr. 2 pagina's 967-971 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society of Mechanical Engineers, Seoul |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 40 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |