Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 32 gevonden artikelen
 
 
  Board level reliability analysis of chip resistor assemblies under thermal cycling: A comparison study between SnPb and SnAgCu
 
 
Titel: Board level reliability analysis of chip resistor assemblies under thermal cycling: A comparison study between SnPb and SnAgCu
Auteur: Han, Changwoon
Han, Bongtae
Verschenen in: Journal of mechanical science and technology
Paginering: Jaargang 28 (2014) nr. 3 pagina's 879-886
Jaar: 2014
Inhoud:
Uitgever: Korean Society of Mechanical Engineers, Heidelberg
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 32 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland