|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
The measurement of thermal conductivities using the photothermal deflection method for thin films with varying thickness |
| Auteur: |
Kim, H. J. Kim, J. H. Jeon, P. S. Yoo, J. |
| Verschenen in: |
Journal of mechanical science and technology |
| Paginering: | Jaargang 23 (2009) nr. 9 pagina's 2514-2520 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Korean Society of Mechanical Engineers, Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |