|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Ellipsometry as a high-precision technique for subnanometer-resolved monitoring of thin-film structures |
| Auteur: |
Shvets, V. A. Spesivtsev, E. V. Rykhlitskii, S. V. Mikhailov, N. N. |
| Verschenen in: |
Nanotechnologies in Russia |
| Paginering: | Jaargang 4 (2009) nr. 3-4 pagina's 201-214 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
SP MAIK Nauka/Interperiodica, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |