|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron microscopy characterization of higher manganese silicide film structure on silicon |
| Auteur: |
Orekhov, Andrey S. Kamilov, T. S. Orekhov, Anton S. Arkharova, N. A. Rakova, E. V. Klechkovskaya, V. V. |
| Verschenen in: |
Nanotechnologies in Russia |
| Paginering: | Jaargang 11 (2016) nr. 9-10 pagina's 610-616 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Pleiades Publishing, Moscow |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |