|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Detecting defects in PCB manufacturing: an exploration using Yolov8 deep learning |
| Auteur: |
LI, Weifeng |
| Verschenen in: |
International journal on interactive design and manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 19 () nr. 5 pagina's 3505-3515 |
| Jaar: |
2024-07-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer Paris, Paris |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |