|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Interference microscope-profilometer |
| Auteur: |
Sysoev, E. V. Vykhristyuk, I. A. Kulikov, R. V. Potashnikov, A. K. Razum, V. A. Stepnov, L. M. |
| Verschenen in: |
Optoelectronics, instrumentation and data processing |
| Paginering: | Jaargang 46 (2010) nr. 2 pagina's 198-205 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Allerton Press, Inc., Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |