|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
An electron diffraction and high-resolution transmission electron microscopy study of defect structure in silicon doped with transition metal impurities |
| Auteur: |
Arkharova, N. A. Grigor’ev, Yu. V. Privesentsev, V. V. |
| Verschenen in: |
Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics |
| Paginering: | Jaargang 74 (2010) nr. 7 pagina's 1024-1026 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Allerton Press, Inc., Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |