|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of Ge and C layer deposition on a Si substrate using SIMS profiling |
| Auteur: |
Kharlamov, V. S. Kulikov, D. V. Trushin, Yu. V. Nader, P. Mazri, P. Stauden, Th. Pezoldt, J. |
| Verschenen in: |
Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics |
| Paginering: | Jaargang 74 (2010) nr. 2 pagina's 241-244 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Allerton Press, Inc., Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |