|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Reflective interferometer for investigation of the amplitude-phase characteristics of semiconductor nanostructures |
| Auteur: |
Kovalev, A. A. Preobrazhenskii, V. V. Putyato, M. A. Pchelyakov, O. P. Rubtsova, N. N. |
| Verschenen in: |
Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics |
| Paginering: | Jaargang 73 (2009) nr. 2 pagina's 278-280 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Allerton Press, Inc., Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |