Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
 
 
  Depth-profile analysis of nanostructures by SIMS: Depth resolution function
 
 
Titel: Depth-profile analysis of nanostructures by SIMS: Depth resolution function
Auteur: Kudriavtsev, Yu.
Gallardo, S.
Villegas, A.
Ramirez, G.
Asomoza, R.
Verschenen in: Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics
Paginering: Jaargang 72 (2008) nr. 7 pagina's 895-898
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Allerton Press, Inc., Heidelberg
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland