|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth-profile analysis of nanostructures by SIMS: Depth resolution function |
| Auteur: |
Kudriavtsev, Yu. Gallardo, S. Villegas, A. Ramirez, G. Asomoza, R. |
| Verschenen in: |
Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics |
| Paginering: | Jaargang 72 (2008) nr. 7 pagina's 895-898 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Allerton Press, Inc., Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |