|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray emission spectroscopy of solids in the depth-resolution mode: Investigation of a-Si/Al/c-Si nanolayers |
| Auteur: |
Shulakov, A. S. Bukin, S. V. Zdanchuk, E. V. Tveryanovich, S. Yu. |
| Verschenen in: |
Bulletin of the Russian Academy of Sciences. Physics |
| Paginering: | Jaargang 72 (2008) nr. 4 pagina's 434-438 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Allerton Press, Inc., Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |