|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Atom Probe Tomography and Correlative Microscopy: 3D Nanoscale Characterization of Metals, Minerals and Materials |
| Auteur: |
Devaraj, Arun Eisenlohr, Philip |
| Verschenen in: |
JOM |
| Paginering: | Jaargang 70 (2018) nr. 9 pagina's 1723-1724 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |