|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
In-Situ Monitoring for Defect Identification in Nickel Alloy Complex Geometries Fabricated by L-PBF Additive Manufacturing |
| Auteur: |
McNeil, J. Logan Sisco, Kevin Frederick, Curt Massey, Michael Carver, Keith List, Fred Qiu, Caian Mader, Morgan Sundarraj, Suresh Babu, S. S. |
| Verschenen in: |
Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science |
| Paginering: | Jaargang 51 () nr. 12 pagina's 6528-6545 |
| Jaar: |
2020-10-14 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |