|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Lattice Defects Diffuse Scattering from Thin Films of a Ge-Si System with Low-Energy Ar+ and Xe+ Bombardment During Molecular Beam Epitaxy (MBE) Growth |
| Auteur: |
Rozenak, Paul |
| Verschenen in: |
Metallurgical and materials transactions. A, Physical metallurgy and materials science |
| Paginering: | Jaargang 44 (2012) nr. 1 pagina's 102-114 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |