|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of silicon wafers through deposition of self-assembled monolayers |
| Auteur: |
Basnar, B. Schnöller, J. Föttinger, K. Friedbacher, G. Mayer, U. Hoffmann, H. Fabry, L. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 368 (2000) nr. 5 pagina's 434-438 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |