|
Analysis of Co and Cr dopants in epitaxial films of β-FeSi2 by ERDA, RBS, EDX and AES |
|
|
|
Titel: |
Analysis of Co and Cr dopants in epitaxial films of β-FeSi2 by ERDA, RBS, EDX and AES |
Auteur: |
Bohne, W. Reinsperger, G.-U. Röhrich, J. Schöpke, A. Selle, B. Sieber, I. Stauß, P. Urban, I. |
Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
Paginering: |
Jaargang 365 (1999) nr. 1-3 pagina's 258-262 |
Jaar: |
1999 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|