|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Chemical analysis of thin films by means of SS-MS, GD-OES, and XPS demonstrated at Ir-Si thermoelectrica |
| Auteur: |
Kurt, R. Hoffmann, V. Reiche, R. Pitschke, W. Wetzig, K. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 363 (1999) nr. 2 pagina's 179-184 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |