|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 96 gevonden artikelen
| Titel: |
AES Depth profiling of semiconducting multilayer structures using an ion beam bevelling technique |
| Auteur: |
Procop, M. Klein, A. Rechenberg, I. Krüger, D. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 358 (1997) nr. 1-2 pagina's 358-360 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 96 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |