|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 96 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profiling analysis of thick Ni- and Co-doped oxide layers on Cr-based alloys of the interconnector of a solid oxide fuel cell using rf GDMS |
| Auteur: |
Saprykin, A. I. Becker, J. S. v. d. Crone, U. Dietze, H.-J. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 358 (1997) nr. 1-2 pagina's 145-147 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 96 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |