|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of slopes of calibration lines in multi element XRF analysis of thin films using polychromatic excitation from Mo, Au, W, and Cr anodes and one standard |
| Auteur: |
Coetzee, P. P. Oosthuizen, N. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 355 (1996) nr. 1 pagina's 83-85 |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |