|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
AFM and XRD investigation of crystalline vapor-deposited C60 films |
| Auteur: |
Atamny, F. Baiker, A. Muhr, H. -J. Nesper, R. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 353 (1995) nr. 3-4 pagina's 433-438 |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |