|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Combined NRA, channeling-RBS and FTIR ellipsometry analyses for the determination of the interface and bonding state of thin SiOx and SiNxOy layers |
| Auteur: |
Michelmann, R. W. Baumann, H. Markwitz, A. Meyer, J. D. Röseler, A. Krimmel, E. F. Bethge, K. |
| Verschenen in: |
Fresenius' journal of analytical chemistry |
| Paginering: | Jaargang 353 (1995) nr. 3-4 pagina's 403-407 |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Berlin/Heidelberg |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |