|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
A robust method to measure residual stress in micro-structure |
| Auteur: |
Kang, Yi-Ian Qiu, Wei Lei, Zhen-kun |
| Verschenen in: |
Optoelectronics letters |
| Paginering: | Jaargang 3 () nr. 2 pagina's 126-128 |
| Jaar: |
2007-03-19 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tianjin University of Technology, Tianjin |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |