|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 38 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Some issues on atomic force microscopy based surface characterization |
| Auteur: |
Chen, Yu-hang Huang, Wen-hao |
| Verschenen in: |
Optoelectronics letters |
| Paginering: | Jaargang 3 (2007) nr. 2 pagina's 129-132 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Tianjin University of Technology, Tianjin |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 38 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |