|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 53 van 128 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of Device Geometry and Imperfections on the Interpretation of Transverse Magnetic Focusing Experiments |
| Auteur: |
Lee, Yik Kheng Smith, Jackson S. Cole, Jared H. |
| Verschenen in: |
Nanoscale research letters |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2022-03-05 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 53 van 128 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |