|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 24 van 128 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect Inspection Techniques in SiC |
| Auteur: |
Chen, Po-Chih Miao, Wen-Chien Ahmed, Tanveer Pan, Yi-Yu Lin, Chun-Liang Chen, Shih-Chen Kuo, Hao-Chung Tsui, Bing-Yue Lien, Der-Hsien |
| Verschenen in: |
Nanoscale research letters |
| Paginering: | Jaargang 17 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2022-03-04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 24 van 128 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |