|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 49 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscratch Characterization of GaN Epilayers on c- and a-Axis Sapphire Substrates |
| Auteur: |
Lin, Meng-Hung Wen, Hua-Chiang Jeng, Yeau-Ren Chou, Chang-Pin |
| Verschenen in: |
Nanoscale research letters |
| Paginering: | Jaargang 5 (2010) nr. 11 pagina's 1812-1816 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 49 van 76 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |