|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault detection test set for testable realizations of logic functions with ESOP expressions |
| Auteur: |
Pan, Zhongliang Chen, Guangju |
| Verschenen in: |
Journal of electronics (China) |
| Paginering: | Jaargang 24 (2007) nr. 2 pagina's 238-244 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |