|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Forward gated-diode method for directly measuring stress-induced interface traps in NMOSFET/SOI |
| Auteur: |
Huang, Aihua He, Jin Zhang, Xing Huang, Ru Wang, Yangyuan Yu, Shan Jia, Lin |
| Verschenen in: |
Journal of electronics (China) |
| Paginering: | Jaargang 19 (2001) nr. 1 pagina's 104-107 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Science Press, Beijing |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |