|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of semiconductor devices by infrared laser interferometry - Charakterisierung von Halbleiterbauelementen mit Hilfe der Infrarot-Laserinterferometrie |
| Auteur: |
Seliger, N. Gornik, E. Fürböck, C. Pogany, D. Habaš, P. Thalhammer, R. Stoisiek, M. |
| Verschenen in: |
E & I |
| Paginering: | Jaargang 115 (1998) nr. 7-8 pagina's 403-410 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer-Verlag, Vienna |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |