|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 42 van 73 gevonden artikelen
| Titel: |
Fixed Pattern Noise Analysis for Feature Descriptors in CMOS APS Images |
| Auteur: |
Zapata-Pérez, Juan Doménech-Asensi, Ginés Ruiz-Merino, Ramón Martínez-Álvarez, Jose Javier Fernández-Berni, Jorge Carmona-Galán, Ricardo |
| Verschenen in: |
Sensing and imaging |
| Paginering: | Jaargang 21 () nr. 1 pagina's xx |
| Jaar: |
2020-03-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 42 van 73 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |